実施場所：京都教育大学

目標：
走査型電子顕微鏡の一部として付随しているＸ線マイクロアナライザーの原理を理解し，実際に非破壊的に金属の元素分析を行い，その有用性を考えさせる。また，透過型と比較することにより，それぞれの機器の共通点と相違点を考える。